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中國科學院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所Yu Xu、Ke Xu和蘇州大學Bing Cao等--石墨烯輔助衰減電荷轉(zhuǎn)移對遠程外延異質(zhì)界面的調(diào)制
       遠程外延(RE),襯底極性可以“穿透”二維材料(2DMs)并作用于外延層,顯示出一種具有前瞻性的普遍增長策略。然而,從本質(zhì)上講,到目前為止,2DM在RE中的作用尚未得到深入研究。在這里,實現(xiàn)了單晶薄膜在最弱的極性/偶像性襯底上的RE,以揭示其本質(zhì)物理性質(zhì)。石墨烯促進從基板到外延層的衰減電荷轉(zhuǎn)移(ACT),以構(gòu)建遠程相互作用。界面原子通過石墨烯組裝成“不相稱”的外延關(guān)系,以減少外延層中的失配位錯。此外,石墨烯降低了原子遷移屏障,導致“逐層”生長模式的趨勢。這種薄膜生長模式不同于傳統(tǒng)的外延(CE),有利于外延層的快速生長和聚結(jié)邊界位錯的減少。石墨烯作用的深刻揭示揭示了RE的界面物理特性,并為使用2DM擴展三維材料(3DM)以應用于器件提供了更有價值的指導。
 
圖1.外延結(jié)構(gòu)的方向和極性。(a) AlN/SLG/SiC的高分辨率X射線衍射儀(HRXRD)(102)φ掃描,顯示AlN和SiC之間的外延取向關(guān)系。(b) AlN/SLG/SiC的橫截面掃描透射電子顯微鏡(STEM)圖像。橙色框架中的插圖是來自 (b) 上部的 HR 高角度環(huán)形暗場 (HAADF)-STEM 圖像,與 Al 極性 AlN 模型疊加,紅色和藍色球體分別表示 Al 和 N 原子,尺度為 1 nm。黑色虛線框中的插圖分別是AlN和AlN/SiC界面的選定面積電子衍射(SAED)圖,紅色和黃色箭頭分別對應于AlN和SiC。(c) 界面的HR HAADF-STEM圖像與Al,N,C和Si原子的能量色散光譜(EDS)信號疊加。(d) 沿(c)中的垂直白色虛線對Al、N、C和Si的特征X射線信號進行綜合線掃描。(e和f)AlN/SLG/SiC 界面 (e) 及其逆快速傅里葉變換 (FFT) 晶格條紋 (f) 處的 HR HAADF-STEM 圖像。(e) 中黃色框中的插圖是 FFT 圖案。
 
圖2.AlN/SLG/SiC的界面原子結(jié)構(gòu)和DFT計算.(a) AlN/SLG/SiC界面的HR HAADF-STEM圖像。(b) (a)中綠框的放大圖像。(c) 通過HR HAADF-STEM分析測量的AlN和SLG異質(zhì)界面間隙的直方圖。(d) 結(jié)合能曲線繪制為AlN/SiC(黑線)、AlN/SLG/SiC(紅線)和AlN/MLG(藍線)異界面間隙的函數(shù)。(e)不同石墨烯層覆蓋的SiC襯底上的結(jié)合能比較。
 
圖3.AlN/SLG/SiC的界面電子性能.(a) SLG/SiC、N/SLG/Sic、n/blg/SiC 和 N/石墨烯系統(tǒng)的 Bader 電荷轉(zhuǎn)移分析。插圖顯示了每個系統(tǒng)的原子結(jié)構(gòu)示意圖。(b) AlN/SLG/SiC、AlN/BLG/SiC 和 AlN/石墨烯系統(tǒng)的 Bader 電荷轉(zhuǎn)移分析。(c) 面內(nèi)取向的AlN/SLG/SiC的橫截面原子結(jié)構(gòu)和電荷密度差(CDD)[11-20]氮化 鋁||[1–100]SLG||[11–20]原文如此.CDD在±0.003 e/Å3的等值面水平下描述。
 
圖4。AlN薄膜生長模式分析。(a–c)AlN/SLG/SiC界面圖像(c)的橫截面TEM圖像(a)、HAADF-STEM圖像(b)和平面圖BF-STEM。(d–f)AlN/SiC界面圖像(f)的橫截面TEM圖像(d)、HAADF-STEM圖像(e)和平面圖BF-STEM。(f)中的實心白框中的插圖是放大圖像。(g) 計算的遷移障礙。黑色、紅色和藍色虛線框中的插圖分別是SiC、SLG/SiC和SLG上Al原子遷移的示意圖。(h和i)AlN/MLG/SiC的界面圖像(i)的橫截面TEM圖像(h)和平面圖BF-STEM。(b和e)中的實心箭頭和(c和f)中的紅色圓圈表示空隙的位置。(c、f和i)中的插圖是對應的SAED圖案。
 
圖5。RE-AlN薄膜中的位錯觀察。(a–c)g=0002(a)和g=11–20(b)AlN/SiC的截面BF-STEM圖像和平面圖BF TEM圖像(c)。“m”表示混合型位錯。(d) AlN/SLG/SiC界面的橫截面HAADF-STEM圖像。(d)的橙色框中的HR HAADF-STEM和HR DF2-STEM圖像顯示,石墨烯中的缺陷可導致RE-AlN膜中的位錯。
 
       相關(guān)研究成果由中國科學院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所Yu Xu、Ke Xu和蘇州大學Bing Cao等人2023年發(fā)表在ACS Nano (https://doi.org/10.1021/acsnano.3c00026)上。原文:Modulation of Remote Epitaxial Heterointerface by Graphene-Assisted Attenuative Charge Transfer。

轉(zhuǎn)自《石墨烯研究》公眾號
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